Dynamics of Isoelectric Focusing

Abstract

Az izoelektromos fókuszálást (IEF) egy nagyfelbontású analitikai elválasztásként azonosítják, amely amfoter komponensek izoelektromos pontjuk (pI) alapján történik. E technika iránt megnövekedett igény teszi szükségessé a megfelelő modell-számítások elvégzését és elemzését. A számítógépek megjelenésével megújult érdeklődés mutatkozott a szimulációk és a modellprogramok iránt, amelyek segítik az elválasztástudomány körében végzett kutatások jobb megértését. Mielőtt bármilyen laboratóriumi munka elkezdődne, a számítógépes szimulációk lehetővé teszik a rendszer viselkedésének feltárását, ezzel utánozva a valós kísérletek folyamatait, mint például az elválasztási dinamikát, a pH gradiens kialakulását és stabilitását, az elektroforetikus mobilizálást és az amfoter vegyületek fókuszálását. Jó minőségi egyezést kapunk az irodalomban publikált gyakorlati kísérletekkel (Thormann és Mosher 1988; Mosher és mtsai 1992; Mosher, Thormann, és mtsai 1989; Mosher, Dewey, és mtsai 1989; Thormann és mtsai 1986). A szimulációk alkalmasak a teljes szeparációs folyamat lépésről lépésre történő felmérésére, valamint az elválasztási körülmények optimalizálására, mint például az injektálási protokoll, az amfolitok vagy az alkalmazandó elektrolitrendszerek tulajdonságai.